Контроль покрытий.
Контролируются следующие параметры:
- вес покрытий
- толщина покрытий
Вес определяется путем разностного взвешивания чистого изделия и с покрытием, на особо точных или аналитических весах.
Толщина покрытия как правило определяется на часовых проекторах или наиболее точно замеряется на интерференционных микроскопах:
- на покрытии выполняется ступенька и на микроскопе ступенька создает интерференционную картину вида:
Комментариев нет:
Отправить комментарий